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涂層測厚儀的檢測原理和分類

2022-08-21 09:04:29 精質(zhì)視覺

  到現(xiàn)今為止,市面上測厚儀無損檢測技術(shù)已成為加工工業(yè)為用戶進行成品質(zhì)量檢測和保證產(chǎn)品達到優(yōu)質(zhì)標(biāo)準的必備手段。測厚儀大致有以下三種:應(yīng)用磁性測量法、渦流測量法以及超聲波測量法的三類測厚儀。Wn3機器視覺檢測設(shè)備_CCD視覺檢測_外觀缺陷檢測系統(tǒng)_精質(zhì)視覺

  測厚儀無損檢測中常用的原理方法一般有:Wn3機器視覺檢測設(shè)備_CCD視覺檢測_外觀缺陷檢測系統(tǒng)_精質(zhì)視覺

  磁性測量法Wn3機器視覺檢測設(shè)備_CCD視覺檢測_外觀缺陷檢測系統(tǒng)_精質(zhì)視覺

  適用于導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測量。導(dǎo)磁材料一般為:鋼、鐵、銀、鎳。此種方法測量精度高。Wn3機器視覺檢測設(shè)備_CCD視覺檢測_外觀缺陷檢測系統(tǒng)_精質(zhì)視覺

  渦流測量法Wn3機器視覺檢測設(shè)備_CCD視覺檢測_外觀缺陷檢測系統(tǒng)_精質(zhì)視覺

  適用于導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測量。此種方法較磁性測厚法精度低。Wn3機器視覺檢測設(shè)備_CCD視覺檢測_外觀缺陷檢測系統(tǒng)_精質(zhì)視覺

  超聲波測量法Wn3機器視覺檢測設(shè)備_CCD視覺檢測_外觀缺陷檢測系統(tǒng)_精質(zhì)視覺

  適用于各種板材和各種加工零件的精確測量,也可以對生產(chǎn)設(shè)備中各種管道和壓力容器在使用過程中受腐蝕后的減薄程度進行監(jiān)測。Wn3機器視覺檢測設(shè)備_CCD視覺檢測_外觀缺陷檢測系統(tǒng)_精質(zhì)視覺

  磁性測量原理測厚儀又可分為磁吸力原理測厚儀和磁感應(yīng)原理測厚儀兩種,渦流測量原理測厚儀則只有電渦流測厚儀一種。Wn3機器視覺檢測設(shè)備_CCD視覺檢測_外觀缺陷檢測系統(tǒng)_精質(zhì)視覺

  磁吸力原理測厚儀是利用永久磁鐵測頭與導(dǎo)磁的鋼材之間的吸力大小與處于這兩者之間的距離成一定比例關(guān)系來測量覆層的厚度的,這個距離就是覆層的厚度,所以只要覆層與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大,就可以進行測量。Wn3機器視覺檢測設(shè)備_CCD視覺檢測_外觀缺陷檢測系統(tǒng)_精質(zhì)視覺

  磁感應(yīng)原理測厚儀是利用測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵基材的磁通大小來測定覆層厚度的,覆層愈厚,磁通愈小。當(dāng)軟鐵芯上繞著線圈的測頭被放在被測物上后,儀器自動輸出測試電流,磁通的大小影響到感應(yīng)電動勢的大小,儀器將該信號放大后來指示覆層厚度。Wn3機器視覺檢測設(shè)備_CCD視覺檢測_外觀缺陷檢測系統(tǒng)_精質(zhì)視覺

  電渦流測厚儀是利用高頻交流電在作為測頭的線圈中產(chǎn)生一個電磁場,將探頭靠近導(dǎo)電的金屬體時,就在金屬材料中形成渦流,這個渦流隨著與金屬體的距離減小而增大,并且會影響探頭線圈的磁通,此反饋作用量就是表示探頭與基體金屬之間間距大小的一個量值。Wn3機器視覺檢測設(shè)備_CCD視覺檢測_外觀缺陷檢測系統(tǒng)_精質(zhì)視覺

  電渦流法測頭用在非鐵磁金屬基體上測量覆層厚度,所以通常我們稱該測頭為非磁性測頭。與磁性測量原理比較,它們的電原理基本一樣,主要區(qū)別是測頭不同,測試電流的頻率大小不同,信號大小、標(biāo)度關(guān)系不同。在近兩年的測厚儀中,通過不斷改進測頭結(jié)構(gòu),再配合微電腦技術(shù),由自動識別不同測頭來調(diào)用不同的控制程序,分別輸出不同的測試電流和改變標(biāo)度變換軟件,終于使兩種不同類型的測頭接在同一臺測厚儀上,基于同一思想,可配接達10種測頭的測厚儀也應(yīng)運而生。Wn3機器視覺檢測設(shè)備_CCD視覺檢測_外觀缺陷檢測系統(tǒng)_精質(zhì)視覺

  超聲波測厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進行厚度測量的,當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測物體到達材料分界面時,脈沖被反射回探頭,通過精確測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。Wn3機器視覺檢測設(shè)備_CCD視覺檢測_外觀缺陷檢測系統(tǒng)_精質(zhì)視覺

  雖然幾種測厚儀在校準中測量點和標(biāo)準材料的選擇上有很多不同,但在操作中都有一些相同的需要注意的地方,如每種測厚儀對基體的表面曲率和最小厚度都有一個下限的規(guī)定,在實際校準中應(yīng)選擇尺寸合理的基體進行操作;測量中測頭的取向和壓力也會對結(jié)果有影響,要保持測頭與基體的垂直、壓力恒定并盡可能小;另外,校準覆層測厚儀時還要注意外界磁場和基體剩磁的干擾,校準超聲波測厚儀時要注意溫度變化和耦合劑粘度的影響。Wn3機器視覺檢測設(shè)備_CCD視覺檢測_外觀缺陷檢測系統(tǒng)_精質(zhì)視覺

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